光矢量分析系統測試光纖在不同波長(cháng)下的彎曲損耗

  ICC訊 在實(shí)際使用過(guò)程中光纖不可避免地會(huì )被彎曲，當彎曲半徑較小時(shí)，光的傳輸途徑會(huì )發(fā)生相應的改變，在彎曲處有一部分光會(huì )從基模中泄露，滲透到包層或穿過(guò)包層輻射模向外傳輸而引起光功率減小，從而造成彎曲損耗。借助于光矢量分析系統(OCI-V)能夠測試光器件在不同波長(cháng)下的損耗特點(diǎn)，對光纖進(jìn)行不同彎曲狀態(tài)下的損耗測試。

光矢量分析儀(OCI-V)

  測試光纖彎曲后損耗的實(shí)驗裝置如圖1所示，將被測光纖纏繞在不同直徑的橡膠棒上，每種直徑的橡膠棒上纏繞不同圈數的光纖。

圖1. 不同波長(cháng)下?lián)p耗實(shí)驗裝置圖

  采樣OCI-V透射模式，測試光纖在沒(méi)有彎曲狀態(tài)下的初始損耗，測試結果如圖2所示，可以看出待測光纖在沒(méi)有彎曲時(shí)的平均損耗約為0.65dB，且在不同波長(cháng)下的損耗基本一致。

圖2. 無(wú)彎曲時(shí)在不同波長(cháng)下的初始損耗

  表1. 不同直徑圈數波長(cháng)下的損耗情況

  表1為光纖彎曲后在不同波長(cháng)下的損耗測試結果，從結果中可以看出纏繞直徑越小，纏繞圈數越多，對待測光纖帶來(lái)的損耗越大，在相同纏繞直徑和纏繞圈數時(shí)，損耗會(huì )隨著(zhù)波長(cháng)的加長(cháng)而增大。

(a)纏繞1圈

(b)纏繞2圈

(c)纏繞5圈

圖3. 彎曲直徑10mm時(shí)在不同波長(cháng)下的損耗

  使用OCI-V可以測試出光纖彎曲時(shí)在不同波長(cháng)下的損耗情況，損耗會(huì )隨著(zhù)彎曲直徑的減小或纏繞圈數的增加而增大，從測試結果可以看出，在同一種彎曲狀態(tài)下，隨著(zhù)波長(cháng)的加長(cháng)損耗增大。通過(guò)OCI-V可以快速測試出光鏈路在不同波長(cháng)下的損耗特性，為設計制造光鏈路提供可靠的數據支撐。

  昊衡科技

  Megasense

  一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售于一體的高科技公司，專(zhuān)業(yè)從事工業(yè)級自校準光學(xué)測量與傳感技術(shù)開(kāi)發(fā)，也是一家實(shí)現OFDR技術(shù)商用化的公司。目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率產(chǎn)品，主要應用于光學(xué)鏈路診斷、光學(xué)多參數測量、高精度分布式光纖溫度和應變傳感測試。已與全球多個(gè)國家和地區企業(yè)建立良好的合作關(guān)系，并取得諸多成果。電話(huà)：027-87002165官網(wǎng)：http://www.mega-sense.com/公眾號：“昊衡科技”或“大話(huà)光纖傳感”