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光電九月,綻放科研之光--武漢普賽斯電子攜高速400G測試解決方案參展CIOE 2020

摘要:專(zhuān)業(yè)光電測試解決方案供應商---武漢普賽斯電子將出席2020年9月9日-11日第22屆中國國際光電博覽會(huì )。屆時(shí),武漢普賽斯電子技術(shù)有限公司將攜全系列光芯片、光組件、光器件、光模塊測試設備與最新技術(shù)方案亮相本屆光博會(huì )。

  普賽斯展位號:4號館 通信系統設備館4A25

  參展時(shí)間:2020年9月9-11日

  參展地點(diǎn):深圳會(huì )展中心(寶安新展館)

  專(zhuān)業(yè)光電測試解決方案供應商---武漢普賽斯電子將出席2020年9月9日-11日第22屆中國國際光電博覽會(huì )。屆時(shí),武漢普賽斯電子技術(shù)有限公司將攜全系列光芯片、光組件、光器件、光模塊測試設備與最新技術(shù)方案亮相本屆光博會(huì )。普賽斯電子致力于求精、創(chuàng )新的企業(yè)工匠精神,讓光電企業(yè)的制造與測試更高效。

  良工鍛煉凡幾年,鑄得寶劍名龍泉。在今年的光博會(huì )上,武漢普賽斯電子將現場(chǎng)展出行業(yè)內領(lǐng)先的光通信測試解決方案,包括COC老化監測與測試系統、BAR TESTER、CHIP TESTER、全新8路ED收發(fā)400G高速誤碼儀、SFP模塊老化、LD集成式老化系統等,武漢普賽斯全體員工誠邀廣大客戶(hù)朋友蒞臨展會(huì )現場(chǎng)進(jìn)行交流指導。

  BAR TESTER

  CHIP TESTER

  400G 高速誤碼儀

  SFP模塊老化系統


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