含硅納米線(xiàn)芯片能無(wú)創(chuàng )診斷胎盤(pán)疾病

  ICC訊 據英國《自然·通訊》雜志3日發(fā)表的一篇醫學(xué)研究論文，中美科學(xué)家對一種名為“NanoVelcro”的芯片進(jìn)行了大幅優(yōu)化，新芯片包含很細的硅納米線(xiàn)，可針對胎盤(pán)植入譜系（PAS）疾病進(jìn)行無(wú)創(chuàng )早期診斷，這種疾病會(huì )導致孕產(chǎn)婦在分娩中死亡。

  胎盤(pán)植入譜系疾病包括侵入性胎盤(pán)、植入性胎盤(pán)、穿透性胎盤(pán)，具體是指妊娠期間胎盤(pán)過(guò)度侵入子宮肌層，且在分娩時(shí)無(wú)法脫落。這會(huì )造成嚴重出血，甚至有時(shí)會(huì )導致孕產(chǎn)婦死亡。目前診斷該疾病的方法雖然也很有效，但有時(shí)依然會(huì )出現不夠準確的情況，抑或是在資源匱乏的地區難以實(shí)現。

  此次，包括美國加州大學(xué)洛杉磯分校、中國深圳人民醫院等機構研究人員在內的團隊，對之前開(kāi)發(fā)的“NanoVelcro”芯片進(jìn)行了優(yōu)化，新芯片包含很細的硅納米線(xiàn)，外部涂有能檢測循環(huán)滋養層細胞（組成胎盤(pán)的細胞）的抗體。這些細胞會(huì )在胎盤(pán)發(fā)育過(guò)程中單個(gè)或聚集脫落到母體血液循環(huán)中，細胞數量的增加可能提示胎盤(pán)植入譜系疾病。

  研究團隊對168位孕婦進(jìn)行了血檢，有些孕婦被診斷出患有胎盤(pán)植入譜系疾病，有些被診斷為胎盤(pán)前置（胎盤(pán)覆蓋宮頸內口），有些胎盤(pán)形成正常。團隊發(fā)現，PAS組的單個(gè)和聚集循環(huán)滋養層細胞計數比其他兩個(gè)組更高。同時(shí)，研究還發(fā)現，單個(gè)和聚集循環(huán)滋養層細胞的數量，有助于在妊娠早期將PAS從前置胎盤(pán)和正常胎盤(pán)中區分出來(lái)。

  研究人員指出，現在需利用更大樣本開(kāi)展進(jìn)一步研究。胎盤(pán)植入譜系疾病會(huì )導致孕產(chǎn)婦在分娩中出現非常嚴重的狀況，而這種新的診斷技術(shù)則有望在不久的將來(lái)補充現有技術(shù)，提高妊娠早期診斷胎盤(pán)植入譜系疾病的準確性。

  總編輯圈點(diǎn)

  老話(huà)說(shuō)，產(chǎn)婦是“鬼門(mén)關(guān)上走一遭”，隨著(zhù)醫學(xué)不斷進(jìn)步，孕產(chǎn)婦生命已得到極大程度的保護。但胎盤(pán)植入，仍是產(chǎn)科少見(jiàn)但非常兇險的并發(fā)癥，如不及時(shí)果斷處理，依然會(huì )危及產(chǎn)婦生命。這一疾病在近年來(lái)發(fā)病率呈上升趨勢，因此我們很高興看到，一種能及早診斷并阻止危險發(fā)生的技術(shù)手段，正走向實(shí)用。