ICC訊 隨著(zhù)CHATGPT、AI的爆發(fā),NVDIA主推的LPO方案今年被推到了風(fēng)口浪尖,隨著(zhù)光模塊端模擬器件的成熟,帶寬及增益均衡的提升,交換機芯片DSP均衡能力的加強,光模塊中不使用數字處理芯片已經(jīng)成為現實(shí)。值得一提的是消費類(lèi)領(lǐng)域,HDMI、DP和Type C等相對低速的傳輸,一直在使用線(xiàn)性直驅的方法設計制造光引擎及AOC。
從理論和測試驗證中,我們可以看出LPO的系統,大大降低了系統散熱、功耗及數據傳輸延遲,但帶來(lái)的問(wèn)題是LPO在主機端的ASIC數據處理能力要比使用傳統的光電模塊的主機端ASIC要強得多。一定程度上來(lái)說(shuō),將原來(lái)光電模塊上的DSP能力移植到了主機處理ASIC上。
來(lái)源于Hisilicon Discussion on the Optical Interconnection Application of Linear Technology
由于光模塊上沒(méi)有DSP的能力并增強了模擬均衡的功能,這樣會(huì )放大來(lái)自于主機端信號的Noise和Jitter,而對于主機廠(chǎng)商而言,每家的layout結果及端口都會(huì )有一定的區別,這就產(chǎn)品各個(gè)端口損耗及信號完整性的差異。因此協(xié)會(huì )對主機信號壓力的輸出提出了一定的要求,并對整個(gè)LPO系統中的各個(gè)點(diǎn)提出了具體的測試需求。MultiLane作為緊跟前沿的數據通信方案提供商,也對TP1a、TP2及TP4做了響應的測試解決方案。
TP1a主要是來(lái)源于主機的信號,由于各家主機廠(chǎng)商的設計及端口的差異,模塊廠(chǎng)商無(wú)法一一去獲得不同主機廠(chǎng)商的產(chǎn)品。MultiLane設計了相應模擬主機物理信號及損耗的套件作為L(cháng)PO光模塊電信號源,驗證LPO光模塊的Tx性能。
TP1a測試設置
ML4079EN作為一個(gè)壓力眼產(chǎn)生器,可模擬主機產(chǎn)生水平方向的Sj、Dj、Rj及垂直Crosstalk信號,同時(shí)也可以通過(guò)調整PAM4的眼高進(jìn)行RLM的模擬。ML4067 channel board作為線(xiàn)性高帶寬插損板(2-24db IL at 26.5GHz),可以模擬主機不同端口的Loss狀況。ML4079EN+ML4067的組合可以完整的模擬出主機信號輸出的物理特性,ML406B作為70GHz帶寬的電采樣示波器可以校準壓力插損的信號VEC、VEO、TECQ、SNDR等參數,用于下一步的LPO光模塊輸入信號。
TP2的測量則主要是測試LPO的光模塊Tx光眼圖,可以用ML4079EN壓力眼誤碼儀或ML4081任意波形發(fā)生器作為壓力眼激勵源,同時(shí)用符合IEEE規范的ML4062/64-MCB-112 QDD800/OSFP800的MCB做為測試夾具,通過(guò)使用光采樣示波器測量ER、TDECQ等參數來(lái)調整LPO芯片的Gain等相關(guān)參數。同時(shí),也可以通過(guò)之前TP1a校準所得的TECQ、SNDR及相關(guān)的干擾來(lái)獲得一個(gè)標準的光壓力源TP2/TP3用于TP4a的驗證。
TP2測試設置
當然作為T(mén)P4a的測量方法現在眾說(shuō)紛紜,但總體來(lái)說(shuō)電采樣示波器、BER及更高一級的幀余量測量也是可行的。針對這個(gè)TP4a,MultiLane則提供了前端校準過(guò)的LPO壓力光源直接通過(guò)ML4062/64-112-MCB輸入被測LPO對TP4a進(jìn)行電眼和BER/FEC的測量。
以上我們可以發(fā)現MultiLane完整的LPO系統測試方案,從系統的角度對整個(gè)LPO鏈路及測試點(diǎn)進(jìn)行校準和測量,讓工程師在研發(fā)過(guò)程中更清晰自己的改善點(diǎn),并通過(guò)不同點(diǎn)的改善來(lái)滿(mǎn)足主機廠(chǎng)商的要求。同時(shí),值得一提的是MultiLane ML4079EN+ML4062/64-HCB也適合用于模擬光電模塊的信號用于主機的壓力測量。
如需更詳細的了解LPO的系統測試方案,可直接訪(fǎng)問(wèn)我們網(wǎng)站www.te-lead.com 或 https://multilaneinc.com/ 查詢(xún)ML4079EN、ML4067等相應產(chǎn)品
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