測試案例 | VIAVI力助中國電信開(kāi)拓創(chuàng )新，實(shí)現G.654E長(cháng)距離高速傳輸型光纖測試

  ICC訊 2021年9月22日，中國電信建成業(yè)界首條全G.654E陸地干線(xiàn)光纜，并完成了業(yè)界首次基于G.654E光纜的400Gb/s超長(cháng)距現網(wǎng)傳輸試驗。

  中國電信在國內率先建成該干線(xiàn)光纜，推動(dòng)了G.654E產(chǎn)業(yè)鏈的成熟，對干線(xiàn)光纜網(wǎng)從G.652D邁入G.654E新型光纖時(shí)代具有引領(lǐng)作用，對建設綠色低碳全光網(wǎng)絡(luò )具有積極且重要的示范意義。

400G+需求使G.654.E

成為超高傳輸技術(shù)光纖主流

  隨著(zhù)5G時(shí)代的數據流量不斷增長(cháng)，承載網(wǎng)的數據傳輸和帶寬壓力不斷增加，骨干網(wǎng)傳輸速率將從100G不斷向200G/400G等更高速率升級。超100G網(wǎng)絡(luò )在整體市場(chǎng)份額中將超過(guò)60%，并且400G+將成為超100G網(wǎng)絡(luò )的主流應用。從骨干網(wǎng)層面來(lái)看，單波400G即將開(kāi)啟，并進(jìn)入長(cháng)周期。

  因此，提前部署支持200G、400G系統的光纖光纜產(chǎn)品是建設高速信息網(wǎng)絡(luò )的基礎。但是，現網(wǎng)中使用的G.652光纖，已經(jīng)無(wú)法滿(mǎn)足未來(lái)光傳輸網(wǎng)絡(luò )超高速率、超大容量、超長(cháng)距離的傳輸需要。

  將視線(xiàn)回落到光纖技術(shù)的發(fā)展，其正呈現出三大趨勢：低/超低損耗光纖、大有效面積光纖、大有效面積和低/超低損耗光纖。

  國內廠(chǎng)商在選擇技術(shù)路徑時(shí)，基本都選擇了將大有效面積和低/超低損耗結合，而同時(shí)滿(mǎn)足超低損耗和大有效面積兩大特性的超低損耗大有效面積G.654.E光纖是400G/1T系統的最佳選擇。

G.654.E光纜的熔接機熔接及測試需求明顯提升

  G.654.E光纖更具優(yōu)勢，但在部署過(guò)程的工程方面卻有不少困難，主要反饋熔接一次成功率低，導致光纜接續時(shí)間長(cháng)。通過(guò)分析，主要原因來(lái)自于：

  1、環(huán)境因素，工程反映不同季節熔接成功率差異大，車(chē)內施工有利于改善質(zhì)量;

  2、裝備原因，熔接機自動(dòng)接續模式下，熔接損耗缺乏穩定性。

  G.654.E較寬泛的模場(chǎng)直徑——不同廠(chǎng)家纖芯互熔產(chǎn)生較大接續損耗(高達0.2dB)。

  G.654.E的大有效面積——某些熔接機無(wú)法準確識別纖芯、包層，需要設為包層對準、甚至多模模式才能熔接，對熔接損耗有潛在影響。

  G.652.D和G.654.E在折射率剖面設計、模場(chǎng)直徑差異明顯——二者互熔存在熔接損耗過(guò)大、反射明顯。

  也正是因為G.654.E光纜的熔接機熔接及測試需求明顯提升，更加精準OTDR雙向測試驗收成為必要選擇之一。

  熔接損耗數據：G.654和G.652熔接，比同種光纖熔接時(shí)大0.081dB(統計數據)

  法蘭損耗數據：G.654和G.652之間法蘭鏈接耗損，比同種光纖法蘭連接時(shí)大0.102dB(統計數據)

  雙向測試可消除光纖增益影響，測試熔接點(diǎn)實(shí)際損耗，科學(xué)輔助工程驗收

  同時(shí)，測試過(guò)程中VIAVI獨家的“自動(dòng)真雙向測試”還提供了更優(yōu)的測試效果：更全面的光纖指標及聯(lián)通測試;高效自動(dòng)化測試;測試實(shí)時(shí)給出雙向測試結果，方便即時(shí)處理故障并查找問(wèn)題。

  【VIAVI光纖測試產(chǎn)品組合】

  針對本次“G.654.E OTDR測試方案”、1550nm波長(cháng)結果分析、1625nm波長(cháng)結果分析、熔接增益及雙向測試、智能真雙向測試和G.654.E干線(xiàn)色散測試方案的全面測試過(guò)程和測試數據，請點(diǎn)擊獲取《G.654E長(cháng)距離高速傳輸型光纖測試案例分享》報告。