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CIOE 2020 | Santec亮相新一代波長(cháng)可調諧激光器

摘要:日本Santec公司攜最新測量?jì)x器和系統方案隆重登場(chǎng)亮相,與光通信行業(yè)客戶(hù)展開(kāi)交流與合作,為客戶(hù)的光器件研發(fā)生產(chǎn)提供專(zhuān)業(yè)測試測量意見(jiàn),滿(mǎn)足當前客戶(hù)因光通信速率升級而產(chǎn)生的高端測量需求,新產(chǎn)品獲得場(chǎng)內專(zhuān)業(yè)觀(guān)眾和客戶(hù)的高度關(guān)注與認可。

  ICC訊 近日,在2020年CIOE中國光博會(huì )上,光通信測試測量領(lǐng)導者日本Santec公司(圣德科)攜最新測量?jì)x器和系統方案隆重登場(chǎng)亮相,與光通信行業(yè)客戶(hù)展開(kāi)交流與合作,為客戶(hù)的光器件研發(fā)生產(chǎn)提供專(zhuān)業(yè)測試測量意見(jiàn),滿(mǎn)足當前客戶(hù)因光通信速率升級而產(chǎn)生的高端測量需求,新產(chǎn)品獲得場(chǎng)內專(zhuān)業(yè)觀(guān)眾和客戶(hù)的高度關(guān)注與認可。

  Santec公司銷(xiāo)售總監幺德全先生向訊石表示,日本Santec公司致力于光通信技術(shù)的革新、探索世界和分享信息。為響應廣大客戶(hù)在各領(lǐng)域中的應用需求,Santec在激光器技術(shù)研發(fā)方面成功地實(shí)現了實(shí)用化,成功于1987年成功研發(fā)出世界首臺商用波長(cháng)可調諧光源。同時(shí)Santec對于快速掃描測試系統有著(zhù)嚴格的測試標準,利用以高分辨率和高精度為標準的高速分析測試解決方案。2001年,日本Santec成立圣德科(上海)光通信有限公司,以更好地服務(wù)中國地區客戶(hù)。


  Santec公司產(chǎn)品專(zhuān)家曹旭也向訊石介紹,公司在本次光博會(huì )上帶來(lái)了最新版本的第7代高性能、高速TSL-770波長(cháng)可調諧激光器,該產(chǎn)品基于Santec公司多年的經(jīng)驗與實(shí)踐,通過(guò)重新設計激光諧振器 以及控制電路,掃描速度是之前的機型的2倍,帶寬掃描為1.5倍,并且實(shí)現了窄光譜線(xiàn)寬度和低噪聲化的轉折型號。


  據訊石了解,TSL-770的波長(cháng)范圍最大可選160nm,提升了測量的產(chǎn)量及精度。是評價(jià)現場(chǎng)、研發(fā)、基礎研究等各種應用程序中理想光源。在降低光學(xué)噪聲方面,TSL-770大幅度提升了外腔激光器的Q值和波長(cháng)穩定性。據此,此光源可在硅基光電電子學(xué)、光學(xué)和光干涉測量,光譜分析等研究領(lǐng)域。

  同時(shí),Santec公司還展出市場(chǎng)代表型號TSL-550波長(cháng)可調諧激光器,TSL-550是高性?xún)r(jià)比的Santec波長(cháng)可調諧光源,具有高光功率和穩定性。該型號采用最新腔體設計實(shí)現了更低的ASE噪聲,將信噪比特性提到90dB/0.1nm,同時(shí)兼顧了超過(guò)+10dBm的光輸出功率。

  TSL-550是光器件尤其是密集型波分復用類(lèi)的無(wú)源器件、波長(cháng)選擇開(kāi)關(guān)(WSS)等需要兼顧功率計噪聲影響的高要求產(chǎn)品測試的理想選擇。相對上一代產(chǎn)品,TSL-550使重復掃描所需時(shí)間減半,同時(shí)搭配Santec公司功率計、偏振控制器等可以輕松實(shí)現WDL、PDL等參數的測試。


  除此之外,Santec公司還向其客戶(hù)介紹了快速掃描測試系統,該系統結合Santec公司的TSL系列可調諧激光器與光功率計(MPM-210或MPM-200)、數據模塊(PCU-100)和自定義軟件,組成完整的掃描測試系統,可以?xún)?yōu)化WDL和PDL測量用于研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境。

  此系統也可簡(jiǎn)化為使用Santec 數據采集模塊(SPU-100)搭配其他光學(xué)的功率計或探測器,可廣泛用于WDL測試。通過(guò)采樣和縮放算法在保持測試方案完整性上可以保持最大測試性能輸出。

  公司還向訊石表示,該系統通過(guò)實(shí)時(shí)記錄可以同時(shí)獲取可調激光器的輸出功率與經(jīng)過(guò)DUT的傳輸功率,從而精確計算出WDL/PDL的數據。采用Mueller矩陣生成快速的PDL測量方案。尤其適用于DWDM和高Q光子器件光譜特性的測試。通過(guò)快速掃描和精確測量可有效節省時(shí)間,以確保測試設備的完整性和有效性。


內容來(lái)自:訊石光通訊咨詢(xún)網(wǎng)
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