穩定可靠！邀您解鎖維度科技光無(wú)源器件可靠性測試系統解決方案

  ICC訊 Dimension 光無(wú)源器件可靠性測試系統可以根據需求調整裝配不同的模塊，適用于對市面上的現有各類(lèi)光無(wú)源器件的光學(xué)性能測試，環(huán)境穩定性測試，老化實(shí)驗測試。

  01

  可移動(dòng)的一站式測量系統

  在外觀(guān)上采用拉桿行李箱的樣式，將相關(guān)測試設備與處理數據PC都集成在箱體內部，設備可移動(dòng)且獨立完成整個(gè)測試任務(wù)。

  02

  平臺+模塊化設計

  · 應用擴展方便 ·

  11槽位OMEGA通用光學(xué)測試平臺，可兼容包含RLM系列插回損測試模塊在內的多種功能測試模塊，可熱插拔、可編程、可擴展性強，易于維護和管理，綜合成本低等。支持網(wǎng)絡(luò )、USB、實(shí)體按鍵等控制方式。并集成光開(kāi)關(guān)、高穩定光源、高精度光功率計等模塊，實(shí)現對無(wú)源器件的可靠性測試。

  03

  設備集成度高

  · 一套系統完成各類(lèi)測試 ·

  集成了插回損測試測試模塊、光開(kāi)關(guān)模塊、光源，完成插回損一次測量，可針對不同的環(huán)境制定相關(guān)方案。

  04

  針對IL的測試

  · 更小的誤差，更高的穩定性 ·

  使用更高功率與穩定的SLS光源，通過(guò)PLC進(jìn)行分光，滿(mǎn)足多路同時(shí)測試。避開(kāi)外接光開(kāi)光對測試穩定均一性的干擾，使用更高穩定性的測試鏈路，完成單對單的高精度插損穩定測試。

  溫馨提示

  產(chǎn)品現已批量出貨中，歡迎咨詢(xún)，更多信息：www.dimension-tech.com