Dimension：高性能免纏繞插回損測試方案

訊石光通訊網(wǎng) 發(fā)布時(shí)間:2020/4/10 9:05:42 編者:iccsz

摘要：維度科技的高性能免纏繞插回損測試方案，采用自研的高性能光源和高精度光功率計，很好地解決了插回損測試中經(jīng)常遇到的諸如測試效率低、測試范圍小、需要纏繞、不能測量較短光纖等問(wèn)題，具有前所未有的易用性和突出優(yōu)勢，是目前單芯、MPO光纖跳線(xiàn)、連接器及其他無(wú)源器件插回損性能測試的理想選擇。

ICC訊 維度科技的高性能免纏繞插回損測試方案，采用自研的高性能光源和高精度光功率計，很好地解決了插回損測試中經(jīng)常遇到的諸如測試效率低、測試范圍小、需要纏繞、不能測量較短光纖等問(wèn)題，具有前所未有的易用性和突出優(yōu)勢，是目前單芯、MPO光纖跳線(xiàn)、連接器及其他無(wú)源器件插回損性能測試的理想選擇。

附：接口選型列表：

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內容來(lái)自：深圳維度科技微信公眾號
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