可編程光開(kāi)關(guān)解決方案

  ICCSZ訊 光開(kāi)關(guān)在任何自動(dòng)化光學(xué)測試系統中有著(zhù)不可替代的重要作用，是其中的核心器件，可以實(shí)現多個(gè)光學(xué)測試對象或者多種光學(xué)性能的自動(dòng)化測試，避免因多次插拔光連接器而造成各種測量不確定性。

  業(yè)界領(lǐng)先的光通信檢測設備和解決方案供應商Dimension為光學(xué)自動(dòng)化測試系統提供了系列高性能OSW光開(kāi)關(guān)模塊，這些模塊非常適用于實(shí)驗室或高嚴格的制造生產(chǎn)環(huán)境，配合Dimension的通用光學(xué)測試平臺，OSW光開(kāi)關(guān)可以在程序控制下自動(dòng)路由光信號，支持對多通道和多個(gè)光學(xué)器件進(jìn)行并行測量，顯著(zhù)減少測試時(shí)間，從而提升測試儀器的使用效率，降低整體測試成本，是自動(dòng)化測試的理想光開(kāi)關(guān)解決方案。

  OSW光開(kāi)關(guān)，可編程，具有多種光開(kāi)關(guān)切換觸發(fā)方式，高可重復性達到1000萬(wàn)次，MEMS光開(kāi)關(guān)超過(guò)10億次;低插入損耗和低偏振相關(guān)損耗，通道一致性好;切換時(shí)間短至幾個(gè)ms;平臺+模塊化的設計，支持多種控制方式，具有很好的易用性和擴展性。OSW光開(kāi)關(guān)模塊分機械式和MEMS兩類(lèi)，主要應用于光路切換、光環(huán)路保護和切換、光纖網(wǎng)絡(luò )遠程監控、光器件測試和研究等。非常適合于科研院所及公司新品研發(fā)、實(shí)驗室、自動(dòng)化產(chǎn)線(xiàn)等測試需要。

  完全可編程的解決方案，支持多種觸發(fā)方式

  OSW光開(kāi)關(guān)通過(guò)編程功能可以靈活設置光路切換觸發(fā)方式，可以通過(guò)外部 TRIG信號，等待設定時(shí)間或者觸摸屏、實(shí)體按鍵等多種方式觸發(fā)光開(kāi)關(guān)切換，為后續自動(dòng)化程序開(kāi)發(fā)靈活提供各種接口。

  高可重復性，切換次數1000萬(wàn)次

  OSW光開(kāi)關(guān)的切換次數可以達到1000萬(wàn)次，MEMS光開(kāi)關(guān)可以達到10億次。插入損耗隨機切換100次的重復性小于0.02dB，為用戶(hù)提供高度可靠的光路。

  低插入損耗，低偏振相關(guān)性，通道一致性好

  各通路插入損耗小于1.0dB，偏振相關(guān)損耗小于0.05dB。

  創(chuàng )新的平臺+模塊化設計，支持多種控制方式

  Dimension的通用光學(xué)測試平臺+模塊化的一站式光學(xué)測試系統，提供了一整套的光學(xué)測試解決方案。雙槽位ALPHA光學(xué)測試平臺和11槽位OMEGA光學(xué)測試平臺，可以兼容包含OSW光開(kāi)關(guān)在內多種功能測試模塊，具有可熱插拔、可編程、可擴展性強、易于維護和管理、綜合成本低等顯著(zhù)優(yōu)勢。支持網(wǎng)絡(luò )、USB、觸摸屏和實(shí)體按鍵多種控制方式。

  性能參數