CIOE2021 | 普賽斯電子攜芯片、器件系列測試產(chǎn)品圓滿(mǎn)參展

  ICC訊 2021年9月16-18日，武漢普賽斯電子技術(shù)有限公司參加中國國際光電博覽會(huì )(CIOE 2021)深圳國際會(huì )展中心(寶安新館)展位號4A78，重點(diǎn)展示了多款芯片測試類(lèi)、器件測試類(lèi)產(chǎn)品以及普賽斯儀表公司的高精度儀表產(chǎn)品。

  CHIP自動(dòng)測試系統

  普賽斯chip自動(dòng)測試系統應用于光芯片 LD-CHIP 高溫/常溫 LIV 測試、SMSR 測試及背光抽測并 對不同測試結果進(jìn)行歸類(lèi)分檔篩選。芯片 wafer 藍膜上料，CHIP-ID 自動(dòng)識別記 憶匹配測試，通過(guò)藍膜頂針剝離機構，吸嘴吸取，機械手分別搬運到高溫及常溫 測試區域，自動(dòng)擺位，自動(dòng)給電，收集發(fā)光參數，分析篩選，機械手搬運分檔歸類(lèi)。

  TO三溫測試系統

  普賽斯 TO 三溫測試系統支持 TO 工業(yè)級低溫、常溫、高溫測試，溫度控制范圍為-40℃～85℃適用于 VCSEL/FP/DFB-TOCAN的自動(dòng)測試，支持器件任意引腳封裝測試，支持 LIV 特性測試以及光譜測試。系統一次支持兩塊夾具進(jìn)行測試，每塊夾具可裝載128顆TO，提高測試產(chǎn)量，系統具有溫控快，溫度均勻性好，穩定可靠，測試效率高的特點(diǎn)。

  光模塊集成式老化系統

  該設備用于光模塊的老化篩選以及可靠性分析。該系統提供 2~5V 恒壓以及最高 120℃高溫老化條件，同時(shí)對模塊的工作電流、電壓以及工作環(huán)境溫度進(jìn)行實(shí)時(shí)監控測試，并自動(dòng)進(jìn)行失效判斷。實(shí)時(shí)儲存監控數據，支持對老化失效模塊進(jìn)行追述，通過(guò) DDM 記錄模塊電壓、溫度、偏置電流、發(fā)射功率、接收功率。最多支持 2016 只模塊(SFP 封裝)的 單次老化。

  400G高速誤碼測試系統

  該產(chǎn)品是一款針對于多通道PAM4和NRZ應用的高速信號誤碼性能分析儀，最高支持8x56Gb/s PAM4信號測試，亦可支持10G~28Gb/s NRZ信號測試，設備包含8路PPG，8路ED收發(fā)端信號可同時(shí)或者獨立工作，單路最高支持56Gb/s PAM4信號，支持多類(lèi)型碼型測試方案。發(fā)端包含多級預加重調節模式，可針對PAM4信號進(jìn)行眼型調節等功能，收 端包含0~9dB CTLE均衡調節，也可支持FFE、DFE等均衡功能，支持FEC功能，可實(shí)現 PRBS錯誤校驗與修正，KP4/KR4 FEC協(xié)議，具備 SNR監測功能?？蓮V泛于 100G 模塊、200G 模塊、400G 模塊、AOC、光器件及子系統研發(fā)生產(chǎn)等光測試場(chǎng)景，亦可為高速光收發(fā)模塊自動(dòng)化生產(chǎn)測試提供最佳解決方案。

      普賽斯TO56自動(dòng)盤(pán)測系統

  普賽斯TO56自動(dòng)盤(pán)測系統，適用于VCSELFP/DFB/DML/EML/SOA-EML-TOCAN的自動(dòng)測試，采用一塊測試板測試64顆4PIN/5PIN-TO-CAN或32顆7PIN/8PIN-TO-CAN,支持任意引腳封裝測試，支持高溫測試、TEC溫控、LIV特性測試以及光譜測試。該系統和我司老化箱配套使用，提高工廠(chǎng)生產(chǎn)、測試效率，具有高集成度、高速、高穩定性的特點(diǎn)。

  武漢普賽斯電子是“武漢·中國光谷”一家高科技企業(yè)，專(zhuān)業(yè)研究和開(kāi)發(fā)光通信器件產(chǎn)線(xiàn)監測和測試方案，以及自動(dòng)化生產(chǎn)設備。產(chǎn)品覆蓋BAR條器件、TO器件、OSA器件、光收發(fā)模塊、BOB等生產(chǎn)線(xiàn)，旨在為光電器件生產(chǎn)客戶(hù)提供完美的服務(wù)。

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