EXFO | 適用于制造和研發(fā)應用的光測試解決方案（下）

  ICC訊  在產(chǎn)線(xiàn)和實(shí)驗室環(huán)境中，有哪些出類(lèi)拔萃的光測試解決方案組合備受青睞？

  本文將為您介紹來(lái)自 EXFO 的 OPAL-EC 端面耦合的晶圓級測試臺。它能夠執行精準、可重復、靈活、快速的光子集成電路(PIC)測試，提供可追溯的測試結果。適用于從研發(fā)到多點(diǎn)量產(chǎn)的各種應用環(huán)境，能夠在集成的光子平臺上進(jìn)行光電子測試，也能廣泛應用于電信和數據通信光模塊、量子、激光雷達(LIDAR)、傳感器、人工智能(AI)。

  適用于集成光子器件的自動(dòng)化測試臺  

  OPAL-EC 端面耦合晶圓級測試臺采用過(guò)精準、可重復、靈活且快速的硬件，提供先進(jìn)的集成光子電路鑒定功能。PILOT軟件套件強化了OPAL-EC的硬件功能，將其變成一個(gè)自動(dòng)化測試臺和高質(zhì)量的測量平臺，將測試結果變成可付諸實(shí)施的數據。整套應用成為一個(gè)平臺，支持完整的測試和測量流程，幫助用戶(hù)變得更加以數據為導向。這一個(gè)完整的平臺與EXFO的先進(jìn)光學(xué)測量功能相結合，并對任何第三方儀表開(kāi)放，成為理想的PIC測試解決方案。

  業(yè)內首創(chuàng )——該測試臺采用先進(jìn)的組件，因此能夠通過(guò)溝槽耦合在晶圓上實(shí)現全自動(dòng)且可重復性高的多端口光學(xué)端面耦合對準。這種水平的精準度打破了通常需要再安裝垂直光柵耦合器，才能進(jìn)行晶圓級裸片篩選的做法。這反過(guò)來(lái)又可以在生產(chǎn)鏈的更早階段測試整個(gè)電路，包括用于封裝的生產(chǎn)端口，從而省去了成本高的步驟，并提高了全球產(chǎn)量和電路性能。還支持在現場(chǎng)快速地重新配置好測試臺，進(jìn)行垂直耦合校準。

  OPAL-EC是專(zhuān)用于PIC測試的OPAL系列測試臺的一部分。該系列還包括僅支持垂直耦合的測試臺OPAL-SC，以及單裸片測試臺OPAL-SD，這些測試臺均采用PILOT軟件。

  PILOT自動(dòng)化軟件

  PILOT是一個(gè)軟件平臺，可編排PIC測試和測量的完整流程：準備；以高吞吐量執行全自動(dòng)的導航、校準和測量以及對結果進(jìn)行分析和數據管理。

  1.功能強大、易于擴展

  從軟件架構到實(shí)施，PILOT在時(shí)間和數量上都具有可擴展性，并有助于實(shí)施最佳實(shí)踐。它通過(guò)自動(dòng)化簡(jiǎn)化了各種任務(wù)(準備、數據分析、報告)和測量(導航、校準、儀表控制)，從而提高了效率。該軟件由多個(gè)應用組成，每個(gè)應用都針對特定任務(wù)進(jìn)行設計，概念和職責分離。

  2.數據庫優(yōu)勢

  該軟件以各種應用為基礎，與數據庫(云端或內部)相連，該數據庫保存了所有元素(結果和實(shí)驗條件、測試臺配置、測試定義、組件定義、驅動(dòng)程序、python腳本)的數據。PILOT可實(shí)現多用戶(hù)、多地點(diǎn)協(xié)作，共享共同的數據工作空間。該數據庫為關(guān)系型的，具備可追溯性，并可以進(jìn)行擴展以支持大容量，使系統具備本地兼容性，并通過(guò)內置工具或互操作性支持高級數據分析、人工智能和商業(yè)智能工具。

  OPAL測試臺包括OPAL-EC主系統和PILOT軟件。OPAL平臺提供了一個(gè)靈活的測試環(huán)境來(lái)構建自定義配置，可以根據您的需求隨時(shí)進(jìn)行修改，并降低了測試設計(DfT)要求。

  注：可以前往EXFO官方微信公眾號，點(diǎn)擊相關(guān)推文觀(guān)看演示視頻，下載規格書(shū)，了解如何使用自動(dòng)化探針臺測試光子集成電路（PIC）