第二十五屆中國國際光電博覽會(huì )(CIOE中國光博會(huì ))將于2024年9月11—13日在深圳國際會(huì )展中心舉辦。EXFO在2024年中國光博會(huì )(CIOE)的10B53展臺上,將帶來(lái)一系列引人注目的重磅首發(fā)產(chǎn)品,期待您蒞臨。
展臺1A
PIC晶圓級全自動(dòng)測試探針臺
將展出業(yè)界領(lǐng)先的晶圓級多端口端面耦合探針測試平臺。
從PIC晶圓到光學(xué)組件和模塊自動(dòng)測試——集成、無(wú)縫和快速的硅基光電子測試。
展臺1B
從設計到量產(chǎn)的自動(dòng) PIC 光電芯片的測試
展出有源和無(wú)源光電芯片測試方案。在單個(gè)晶圓上測試數百甚至數千個(gè)組件時(shí),自動(dòng)化和可重構變得至關(guān)重要,EXFO的模塊化光測試平臺可以進(jìn)行非常容易地在一個(gè)機框中搭建激光器+功率計等測試配置,并可以根據需要添加可調光衰減器、光開(kāi)關(guān)或不同類(lèi)型的光源等。EXFO也可以提供獨立的 MXS系列 矩陣開(kāi)關(guān),從而可以幫助用戶(hù)快速搭建可重構的測試系統。
展臺 2
400G/800G/1.6T高速光模塊測試方案
將展出全新的BA-4000-L2:一款針對800G DR4/FR4/LR/ZR光模塊及相關(guān)芯片和器件的1層誤碼率測試儀和以太網(wǎng) (L2) 流量分析儀。它能滿(mǎn)足800G數通光模塊以及相干光模塊的全面測試要求。
解決方案包括二層數據流量的產(chǎn)生和丟包率分析、PAM4 FEC測試(包括FEC統計)、突發(fā)錯誤檢測和從主機到終端的誤碼率計算,更可提供實(shí)時(shí)的高精度時(shí)延測試,從而在測試400G/800G高速光模塊(包括LPO/LRO/TRO)時(shí)提供業(yè)界最可靠的流量及誤碼測量。
BA-4000-L2具備的物理層誤碼測試能力和完整的以太網(wǎng)二層支持能力使其適用于更廣泛的測試需求,包括研發(fā)測試、中試/量產(chǎn)測試和出廠(chǎng)/來(lái)料檢驗等,不僅可獨立用于光模塊驗證測試,更可以用于與數通設備的對傳測試。
展臺 3
面向量產(chǎn)的自動(dòng)化測試:器件及800ZR模塊
將展示基于OIF 互操作性測試架構搭建一站式測試平臺及控制軟件;800G相干模塊跑流測試、800G相干模塊Tx,Rx全自動(dòng)化性能測試以及800G相干模塊全自動(dòng)互通性測試,包含OSNR可調的鏈路仿真;同時(shí)展示如何利用大矩陣光開(kāi)關(guān)陣列搭建全交叉測試矩陣,提高測試吞吐量。
展臺 4
增強的400G/800G現場(chǎng)及數據中心測試方案
400G/800G算力中心的涌現,帶來(lái)巨量多模MPO光纖的運用;這對MPO-8/12/16/24的端面、OLTS(長(cháng)度、損耗、極性)測試和故障診斷提出更高的要求。EXFO的MPO端面、OLTS和故障排查工具為您打造堅強的算力底座提供有力支撐;同時(shí)400G光模塊和網(wǎng)絡(luò )測試儀現場(chǎng)即可快速驗證光模塊和網(wǎng)絡(luò )(包括DCI互聯(lián)網(wǎng)絡(luò ))品質(zhì)。
展臺 5
5G&無(wú)線(xiàn)/寬帶接入測試方案
展示 EXFO 最新的模塊化射頻測試解決方案5GPro頻譜分析儀 , 幫助用戶(hù)洞察5G射頻環(huán)境。寬帶接入測試方案 包含全新設計的超便攜且支持智能鏈路圖的 OTDR AXS-115 ,新一代光功率計 PX1及 手持式超千兆以太網(wǎng)寬帶和WIFI測試儀EX-10。
展臺專(zhuān)家 答疑切磋
來(lái)自EXFO全球的行業(yè)資深技術(shù)專(zhuān)家將在10B53展臺
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