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LTE測試技術(shù)挑戰,共創(chuàng )4G時(shí)代美好未來(lái)

摘要:2013年12月27日下午,第九屆IMCA 國際儀器儀表與測控自動(dòng)化高峰論壇暨“2013 TD-LTE測量測試核心技術(shù)大會(huì )”,在深圳馬可孛羅好日子酒店舉辦并圓滿(mǎn)成功!迎接4G時(shí)代LET測量測試帶來(lái)的變革和挑戰,LTE將為測量測試產(chǎn)業(yè)鏈帶來(lái)前所未有的發(fā)展機遇。此屆測量測試業(yè)界翹楚聚焦的2013 TD-LTE測量測試核心技術(shù)大會(huì ),以“4G時(shí)代,共創(chuàng )美好未來(lái)”為主題成功打造了一個(gè)高水準的高峰論壇。

內容來(lái)自:訊石光通訊咨詢(xún)網(wǎng)
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關(guān)鍵字: LTE 測試設備
文章標題:LTE測試技術(shù)挑戰,共創(chuàng )4G時(shí)代美好未來(lái)
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