安立通訊科技在線(xiàn)講座 | 激光器相對強度噪聲(RIN)測試方案簡(jiǎn)介 (3/27)

  ICC訊 AIGC的迅猛發(fā)展推動(dòng)了更高速率數據傳輸需求，受此帶動(dòng)，光模塊也迅速從200G/400G向800G/1.6T升級。更高的傳輸速率意味著(zhù)在更大頻率范圍內（數十GHz）的噪聲都會(huì )疊加在信號中，進(jìn)一步降低了其信噪比。
  在模塊級，我們可以利用光口采樣示波器（如安立MP2110A）測量RINxOMA來(lái)評估其影響。但是該方案無(wú)法在前道工序將不良的光芯片/器件剔除，會(huì )導致良率的損失和成本的上升。安立公司針對性地推出了激光器RIN測試方案，以便在芯片和器件級就能提前分析和優(yōu)化激光器/TOSA的噪聲頻譜。本次講座會(huì )對安立公司RIN測試方案做一個(gè)深入淺出的講解，希望聽(tīng)眾能了解其價(jià)值并將該方案應用到研發(fā)和生產(chǎn)中去。

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  講座時(shí)間：

  2024年3月27日（周三）
  【15:00—15:50 演講環(huán)節】
  【15:50—16:00 問(wèn)答環(huán)節】

聽(tīng)講并填寫(xiě)問(wèn)卷有機會(huì )獲得精美禮品

（*圖片內容僅供參考，禮品以實(shí)物為主）