聯(lián)訊儀器推出400G跑流儀、芯片測試機，400G/800G測試方案更加完整

  ICC訊 隨著(zhù)網(wǎng)絡(luò )飛快發(fā)展，越來(lái)越多的應用需要更多的頻段支持，為滿(mǎn)足運營(yíng)商骨干網(wǎng)擴容需求，400G將是骨干網(wǎng)升級和新建的方向。對于聯(lián)訊而言，我們的解決方案是能夠幫助客戶(hù)打造更可靠、更高效、更具成本效益的網(wǎng)絡(luò )系統。為此，聯(lián)訊推出包括400G 跑流儀，400G/800G 誤碼儀，25G NRZ DCA&28G CDR以及激光器芯片測試機在內的一系列完整測試系統。

  400G測試方案原理圖

  I. 400G 跑流儀 NTA4100

  關(guān)鍵參數

  RS(514，544)實(shí)時(shí)編解碼

  端口類(lèi)型: 支持1個(gè)OSFP、2個(gè)QSFPDD, 4個(gè)SFP56端口類(lèi)型

  以太網(wǎng)的幀長(cháng)60~16000字節可配置，點(diǎn)對點(diǎn)以太網(wǎng)鏈路連接

  分析方式：FEC Margin分析，收發(fā)包統計，誤碼分析(端口或者每個(gè)通道)，PCS通道的統計分析，FEC誤碼注入

  功能特點(diǎn)

  高帶寬高吞吐率，端口速率達400Gbps

  完全符合以太網(wǎng)協(xié)議的400G FEC功能實(shí)現

  提供400G 以太網(wǎng)MAC/PCS/PMA/PMD層的分析功能，高效診斷產(chǎn)品問(wèn)題

  豐富的光模塊端口類(lèi)型，支持通道間的偏移測量

  支持模塊MDIO讀寫(xiě)

  II.400G/800G誤碼儀 PBT8856/PBT8812

  關(guān)鍵參數

  速率最高可到60GBaud (120Gbps @ Pam4)

  輸出幅度(差分)正常模式下凈輸出值>600mVpp

  上升下降時(shí)間 <10ps,抖動(dòng)(rms) <650fs,靈敏度100mVpp

  功能特點(diǎn)

  業(yè)務(wù)通道最高可支持 8x112 Gbps

  各通道可獨立配置為 NRZ 或 PAM4 信號制式

  快速上升沿、低固有抖動(dòng)

  內置 RF 開(kāi)關(guān), 實(shí)現軟件程控切換觸發(fā)時(shí)鐘端口

  支持FEC 分析，包括800G FEC

  提供帶溫循套件的一體式解決方案

  III. 25G NRZ DCA DCA6201

  關(guān)鍵參數

  波長(cháng)范圍 750nm~1650nm;RMS 噪聲15uW 典型值(最大值: 18uW)

  靈敏度(進(jìn)行模板測試的最小平均功率) –8 dBm

  時(shí)基間隔精度 1.5ps

  電通道帶寬 30GHz(典型值),本底噪聲 <1mV(典型值)

  功能特點(diǎn)

  支持光/電眼圖測試;速率支持28GBaud，25GBaud

  pattern-lock功能選件;PAM4信號測試功能選件

  帶寬高達30GHz

  IV. 28G CDR CR6201

  關(guān)鍵參數

  恢復時(shí)鐘隨機抖動(dòng)(RMS) <290fs，速率范圍 20Gbaud~28.9Gbaud

  支持調制類(lèi)型 NRZ/PAM4，接收機靈敏度 多模-5dBm 單模-15dbm

  輸入光信號功率范圍 <+6dbm，輸入波長(cháng)范圍 850nm / 1250 ~1650nm

  功能特點(diǎn)

  支持從NRZ和PAM4信號提供時(shí)鐘恢復功能，包含可調環(huán)路帶寬和可選峰值，具有高靈敏度和低固有抖動(dòng)性能

  強大的EQ均衡能力，可以從閉合的眼圖信號中恢復時(shí)鐘

  集成時(shí)鐘恢復單元和光電(O/E)轉換器及光分路器

  支持光信號和電信號的時(shí)鐘恢復，同時(shí)支持單模多模

  V. 激光器芯片測試機

  關(guān)鍵參數光譜測試波長(cháng)范圍800~1650nm

  LIV測試采用靶面尺寸為10*10mm大面積PD，支持前光與背光測試

  單顆芯片測試時(shí)間<6.5s

  Chip ID識別率>99%

  高溫測試重復性：閾值電流Ith<±1%,光功率Po<±2%，電壓Vf<±0.02V，峰值波長(cháng)<±0.2nm，SMSR<±2dB

  功能特點(diǎn)

      測試載臺采用特殊基材及加工工藝，確保測試載臺高導熱性及測試壽命(>2年)

  支持DFB及EML激光器測試

  支持CW/Pulse 方式加電

  獨特的耦合技術(shù)，確保光譜測試準確性

  開(kāi)放的測試算法定義，智能的數據管理系統，可支持客戶(hù)定制

  技術(shù)永遠不會(huì )停止前進(jìn)的腳步，聯(lián)訊儀器作為國產(chǎn)高端光電測試裝備的領(lǐng)先者，致力于幫助客戶(hù)加速創(chuàng )新，創(chuàng )造一個(gè)安全互聯(lián)的生態(tài)網(wǎng)絡(luò )環(huán)境。努力為光通信產(chǎn)品測試提供更加優(yōu)質(zhì)高效的測試解決方案。

      要了解更多，咨詢(xún)186-6029-8596。聯(lián)訊期待與您攜手并進(jìn)，共創(chuàng )光明未來(lái)。