ICCSZ訊 11月13日,第十六屆“中國光谷”光電子國際博覽會(huì )隆重開(kāi)幕,光測試設備領(lǐng)導者圣德科(上海)光通信有限公司(簡(jiǎn)稱(chēng)Santec)展示一系列先進(jìn)光測試設備,包括全波段可調諧激光器和快速掃描測試系統等先進(jìn)測試設備,和光電子行業(yè)及客戶(hù)交流互動(dòng)。期間,Santec中國公司副總經(jīng)理陳玨璋博士接受了訊石光通訊網(wǎng)編輯采訪(fǎng),陳博士表示本次OVC展會(huì )重點(diǎn)展示全波段可調諧激光器和快速掃描測試系統等最新先進(jìn)設備系統,并介紹了中國市場(chǎng)服務(wù)體系。
成立于1979年的Santec已經(jīng)擁有40年發(fā)展歷史,Santec一直專(zhuān)注在光源、可調諧技術(shù)、偏振控制器、濾波器等高性能測試的研發(fā)和創(chuàng )新,針對無(wú)源器件、波分器件(如CWDM/DWDM/AWG等)的IL和PDL測試需求,提供業(yè)界最先進(jìn)的光測試設備。1987年,Santec率先推出全球第一臺外腔型(External Cavity)可調諧半導體激光器,此后成為可調諧激光器技術(shù)的領(lǐng)先者。
據了解,Santec的全波段可調諧激光器是全波段、高性能的可調諧激光系統,涵蓋了超寬的調諧范圍為1260-1680nm(O-band~U-band)。該系統結合了四個(gè)波段的可調諧激光器與光開(kāi)關(guān)模塊(OSU-100)和控制軟件。適用于研發(fā)及生產(chǎn)測試。它可以通過(guò)電腦等設備通過(guò)GIPB、USB等輕松實(shí)現遠程操控。它也可以和Santec的其他測試設備同時(shí)使用以實(shí)現PDL,WDL等測試工作(測量范圍1260nm-1680nm)。
Santec的快速掃描測試系統,通過(guò)實(shí)時(shí)記錄可以同時(shí)獲取可調激光器的輸出功率與經(jīng)過(guò)DUT的傳輸功率,從而精確計算出WDL/PDL的數據。采用Mueller矩陣生成快速的PDL測量方案。此系統也可簡(jiǎn)化為使用Santec 數據采集模塊(SPU-100)搭配其他光學(xué)的功率計或探測器,可廣泛用于WDL測試。通過(guò)采樣和縮放算法在保持測試方案完整性上可以保持最大測試性能輸出。另外,該系統尤其適用于DWDM和高Q光子器件光譜特性的測試。通過(guò)快速掃描和精確測量可有效節省時(shí)間,以確保測試設備的完整性和有效性。
陳博士向訊石介紹:“Santec產(chǎn)品優(yōu)勢是高速掃描,目前每秒能達到200納米,測量的波長(cháng)動(dòng)態(tài)范圍廣,適合各類(lèi)復雜的波分器件,比如波長(cháng)選擇開(kāi)關(guān)(WSS),其可測的線(xiàn)寬寬度達到0.1皮米,這在當前業(yè)界是領(lǐng)先的性能?!?
作為光測試系統專(zhuān)家,陳博士認為測試設備需要為客戶(hù)體驗而考慮,例如性能方面,隨著(zhù)波分密度越來(lái)越小,光源測量在精準度和分辨率上要達到更高的水平。速度方面,主要是更快的掃描速度和數據采集的算法。從客戶(hù)研發(fā)項目開(kāi)始,Santec就瞄準了客戶(hù)需求,提供一整套定制化、快速精準的測試方案,滿(mǎn)足客戶(hù)高效率的研發(fā)生產(chǎn)流程。
如果從產(chǎn)品列表上看,Santec產(chǎn)品并不豐富,卻力求在細分領(lǐng)域做到極致,這是日本科技企業(yè)的特點(diǎn)。為保持光通信測試設備的競爭力,客戶(hù)服務(wù)體系尤其是技術(shù)支持就顯得非常重要。據陳博士介紹,Santec日本總部負責研發(fā)和生產(chǎn),在上海設有技術(shù)支持中心,近期在深圳也開(kāi)設新的技術(shù)支持中心,主要是即時(shí)響應客戶(hù)需求,為客戶(hù)提供現場(chǎng)設備校準和設備維修服務(wù),這也是提高客戶(hù)體驗的重要環(huán)節之一。
陳玨璋博士(中)與訊石編輯合影
隨著(zhù)5G正式商用以及數據中心規模擴大,光器件廠(chǎng)商在面對未來(lái)市場(chǎng)海量需求的同時(shí),光器件的性能質(zhì)量也需要著(zhù)重保障,快速精準的光測試方案將是企業(yè)研發(fā)生產(chǎn)的必要選擇。Santec擁有40年光通訊測試技術(shù)創(chuàng )新積累,致力于光通信技術(shù)革新,將助力光通信客戶(hù)更好地迎接5G時(shí)代的全新挑戰。