昊衡科技推出光學(xué)矢量分析系統

  ICC訊 昊衡科技專(zhuān)注于高端光學(xué)測量與傳感測試系統研發(fā)和解決方案開(kāi)發(fā)，擁有OFDR核心技術(shù)，并成功推出OCI通信系列、OSI傳感系列等多款OFDR商用產(chǎn)品。近期昊衡科技發(fā)布重磅新品---OCI-V光學(xué)矢量分析系統。

  圖1 OCI-V 設備圖

  隨著(zhù)高速光通信發(fā)展，光器件種類(lèi)多、迭代快，對測量?jì)x要求更高。而在新興平面光波導和硅光芯片領(lǐng)域，其對儀表測量精確性、穩定性和操作便利性等各方面提出前所未有的挑戰。OCI-V光學(xué)矢量分析系統能夠同時(shí)測量光學(xué)網(wǎng)絡(luò )損耗、偏振、色散等信息，分析光器件在寬譜、精細波長(cháng)下的損耗和時(shí)延。其功能強大、操作方便，在光器件的研發(fā)、生產(chǎn)全過(guò)程中發(fā)揮重要作用，為改善設計、優(yōu)化結構和評估工藝等提供可靠依據。

  OCI-V光學(xué)矢量分析系統，原理是采用線(xiàn)性?huà)哳l光源對待測器件進(jìn)行掃描，并結合相干檢測技術(shù)獲取待測器件的瓊斯矩陣，進(jìn)而獲得器件插損(IL)、色散(CD)、偏振相關(guān)損耗(PDL)、偏振模色散(PMD)等多項光學(xué)參數。系統測量長(cháng)度200m，可工作在C+L或O波段，具有測量范圍大、波長(cháng)范圍寬、覆蓋器件廣、測量參數多等優(yōu)勢。

  傾斜光柵的PDL測量圖

  硅光芯片的PMD測量圖

  HCN 吸收室的IL測量圖

  啁啾光柵的GD測量圖

  OCI-V系統采用獨特光路設計以及先進(jìn)算法，進(jìn)行智能校準，測量穩定性好，操作簡(jiǎn)單，可極大節省測試時(shí)間。

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