ICC訊 從40G時(shí)代發(fā)展到400G網(wǎng)絡(luò )時(shí)代,DAC無(wú)源銅纜一直在數據中心通信鏈路起著(zhù)舉足輕重的作用,其低功耗低成本的優(yōu)勢也延用到現在的800G,但隨著(zhù)速率和帶寬的不斷攀升也導致DAC的傳輸距離的顯著(zhù)減短。而AOC作為數據中心的長(cháng)距傳輸媒質(zhì),由于其高功耗和高成本無(wú)法成為中端距傳輸的優(yōu)秀替代者。在這個(gè)需求的驅動(dòng)的下,我們通信線(xiàn)纜生產(chǎn)商在數據中心、芯片廠(chǎng)商的配合及推動(dòng)下推出了適合中短距傳輸的有源銅纜,他們DAC的短距傳輸做了延申,也完成了AOC可做的中短距傳輸同時(shí)保持低功耗和低成本。
現在市場(chǎng)上兩種有源銅纜ACC和AEC,ACC-Active Copper Cable是使用Redriver芯片架構在Rx端通過(guò)CTLE均衡調整增益的一種有源銅纜,通俗的說(shuō)更像一根通過(guò)放大模擬信號的有源線(xiàn)纜。而AEC-Active Electrical Cable是更加新穎使用retimer芯片結構的有源銅纜,這種有源銅纜不單單放大和均衡Tx和Rx端,它還會(huì )在Rx端重新做信號整形。
Redriver設計和眼圖
Retimer設計及眼圖
源于:https://www.intel.com/content/www/us/en/io/serial-bus-white-paper.html
MultiLane作為一個(gè)用于創(chuàng )新聚焦于前沿科技的公司,緊跟時(shí)代步伐加入了HiWire聯(lián)盟,迅速了解客戶(hù)ACC和AEC在數據中心中應用及難點(diǎn),打造了業(yè)屆不可多得分別針對ACC或AEC的測試解決方案。
AEC測試系統:MultiLane基于HiWire的AEC測試參數規范,用MultiLane特定儀器打造出AEC的測試系統。它囊括了CMIS驗證、Linkup能力實(shí)時(shí)Pre-和Post-FEC測量,并可自動(dòng)產(chǎn)生測試報告,特別適合來(lái)料檢測、RMA、供應商驗證及生產(chǎn)測試。同樣的配置也可以用于ACC和AOC的測試。
用兩臺ML4054B進(jìn)行400G AEC測試
ACC參數測試方案:ACC測試規范標準還沒(méi)建立,MultiLane已經(jīng)基于如今在用的通用測試參數如頻率、時(shí)域測量包括眼圖優(yōu)化、插損和誤碼率打造了一個(gè)全新的測試方案。根據客戶(hù)的特殊應用環(huán)境,使用MultiLane特定的誤碼儀和示波器可以測量之前所有參數的組合。這些信號綜合參數可以對有源銅纜性能進(jìn)行微調來(lái)平衡IC設置和線(xiàn)纜參數,以達到數據中心的實(shí)際應用需求。
ACC綜合參數測量及微調
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