昊衡科技打破國外技術(shù)壟斷，實(shí)現OFDR技術(shù)國產(chǎn)商用化

  ICC訊 以往光頻域反射儀(OFDR)只有國外少數幾家公司擁有高端儀器，細分市場(chǎng)也被壟斷，國內需求只能依靠國外進(jìn)口。昊衡科技自主研發(fā)了系列產(chǎn)品，其核心技術(shù)具有原創(chuàng )性和自主知識產(chǎn)權，實(shí)現OFDR技術(shù)國產(chǎn)商用化，解決了這一新技術(shù)的痛點(diǎn)問(wèn)題。

  在通信測量領(lǐng)域，昊衡科技推出了OFDR商用產(chǎn)品OCI系列，該系列產(chǎn)品可用于實(shí)驗室以及室外工程。系統自校準無(wú)需人為干預，穩定性非常好，主要技術(shù)參數已經(jīng)處于國際領(lǐng)先水平，測量精度可達μm級別。

  圖. OCI高精度的光學(xué)鏈路診斷儀

  OCI系列產(chǎn)品

  全功能的OCI能測量回損、插損、光纖長(cháng)度、光譜、群延時(shí)等;

  簡(jiǎn)化版的OCI-T主要針對硅光芯片器件、光纖微結構定量分析，品質(zhì)監測及故障診斷;

  OCI-L專(zhuān)用于光纖或光學(xué)鏈路長(cháng)度測量。

  測試案例

  1. 插入損耗測試

  光纖鏈路通常包含多連接點(diǎn)、彎曲和多器件， OCI特有的分布式高精度插損測量能力，可以快速準確地測量并定位鏈路各事件點(diǎn)的插損。

  案例中用可調衰減器在衰減2dB、3dB、5dB時(shí)重復測量10次，插損測量重復性誤差小于0.1dB。

  2. 回波損耗測試

  硅光鏈路具有高度集成性，傳統回損測試方案無(wú)法精確定位、測量硅光鏈路某一位置或器件回損特性。OCI具有較高空間分辨與回損測量精度，可以快速并準確地獲取全鏈路任意位置的回損特性。

  如圖所示為平面波導延遲線(xiàn)。選取芯片中心0.2m長(cháng)度區域計算回損，其值為-57.95dB。同樣，研究人員也可通過(guò)OCI測量光纖與硅光芯片耦合點(diǎn)回波損耗來(lái)評估耦合效率。

  3. 光纖長(cháng)度測量

  OCI在50m測量范圍內空間分辨率為10μm，非常適用于高精度光學(xué)延時(shí)測量領(lǐng)域，如光纖延時(shí)、硅光延時(shí)、空間光路延時(shí)以及邁克爾遜干涉儀的精準測量。

  4. 啁啾光柵光譜及延時(shí)測量

  OCI采用掃頻光源，覆蓋C+L波段，根據氣體吸收線(xiàn)定位波長(cháng)，可以實(shí)現1pm光譜測量精度和1ps群延時(shí)測量精度。

  以啁啾光柵為例，測量距離-反射率曲線(xiàn)、光譜及延時(shí)曲線(xiàn)，測量空間分辨率為10μm。

  根據延時(shí)曲線(xiàn)測量結果，可以計算出光柵的平均色散補償系數為11.1979ps/nm。

  昊衡科技始終秉持著(zhù)“技術(shù)感知世界”的使命，將不余遺力的堅持創(chuàng )新創(chuàng )造，勵志打破國外技術(shù)壟斷，將國產(chǎn)OFDR技術(shù)推向世界。

  昊衡科技：

  一家集研發(fā)、生產(chǎn)、銷(xiāo)售于一體的高科技公司，專(zhuān)業(yè)從事工業(yè)級自校準光學(xué)測量與傳感技術(shù)開(kāi)發(fā)，也是國內唯一一家實(shí)現OFDR技術(shù)商用化的公司。目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率產(chǎn)品，主要應用于光學(xué)鏈路診斷、光學(xué)多參數測量、高精度分布式光纖溫度和應變傳感測試?，F已與全球多個(gè)國家和地區企業(yè)建立良好的合作關(guān)系，并取得諸多成果。了解更多詳情，請訪(fǎng)問(wèn)昊衡科技網(wǎng)站http://www.mega-sense.com/。