OFC 2023 | 菲萊科技攜最新納秒晶圓測試系統參展

  ICC訊 第48屆光網(wǎng)絡(luò )與通信研討會(huì )及博覽會(huì )(OFC 2023)將于2023年3月7-9日在美國圣地亞哥舉行。領(lǐng)先的光芯片測試及可靠性設備提供商上海菲萊測試技術(shù)有限公司將攜納秒晶圓測試系統、全自動(dòng)晶圓AOI系統等亮相此次展會(huì )。展位號#6325，歡迎廣大業(yè)內同仁及客戶(hù)蒞臨交流與合作。

  參展信息：

  上海菲萊測試技術(shù)有限公司

  展會(huì )名稱(chēng)：OFC 第48屆 光網(wǎng)絡(luò )與通信研討會(huì )及博覽會(huì )

  展會(huì )時(shí)間：2023年3月5-9日

  展會(huì )地點(diǎn)：美國.加州,圣地亞哥

  展位號：#6325

  菲萊科技在OFC現場(chǎng)重點(diǎn)展示的產(chǎn)品包括：

  · 400G/800G硅光芯片耦合系統

  · 納秒晶圓測試系統、

  · 全自動(dòng)晶圓AOI系統、

  · 激光芯片老化系統、

  · 高功率激光老化系統、

  · SiC晶圓級老化系統、

  · 芯片加載和卸載系統

  關(guān)于菲萊科技

  菲萊科技是一家半導體測試設備和相關(guān)服務(wù)提供商，致力于幫助客戶(hù)解決半導體芯片測試和可靠性問(wèn)題。產(chǎn)品包括：納秒晶圓測試系統、400G/800G硅光芯片耦合系統、全自動(dòng)晶圓AOI系統、激光芯片老化系統、高功率激光老化系統、SiC晶圓級老化系統、芯片加載和卸載系統、內存燒錄系統、IGBT燒錄系統等。

  菲光科技是菲萊科技全資子公司，致力于為芯片設計公司及晶圓代工廠(chǎng)提供芯片初級封裝及測試服務(wù)，如：Vcsel芯片后處理、RGB芯片封裝和測試、各種激光芯片CoC/COS可靠性測試、激光雷達發(fā)射模塊測試及驗證。

  垂詢(xún)方式

  郵箱：Eric.liu@feedlitech.com

  電話(huà)：18688779380