Santec重磅新品！多通道偏振消光比測試儀， 30dB 高精度 PER 測量，效率與精準雙飛躍

  隨著(zhù)AI大模型參數量突破10萬(wàn)億級，數據中心帶寬需求呈指數級增長(cháng)。在此背景下保偏FAU（Fiber Array Unit, 光纖陣列單元）以及ELSFP (External Laser Small Form-Factor Pluggables，外接激光光源可插拔模塊) 迎來(lái)了潛在的大規模發(fā)展。

  為了更好地滿(mǎn)足數據中心對光通信設備性能的要求，Santec 推出了全球首款多通道偏振消光比PER測試儀PEM-400。其能夠對保偏FAU、ELSFP等光通信設備的偏振消光比進(jìn)行精準測量，確保這些設備在數據中心的高速通信網(wǎng)絡(luò )中發(fā)揮出最佳性能，從而為AI大模型的高效運行提供有力支撐。

  解決目前多通道PER測試痛點(diǎn)

  針對多通道保偏FAU以及ELSFP的PER測試，目前行業(yè)內只有單通道PER測試儀，用戶(hù)需要手動(dòng)通過(guò)夾具調節對準每個(gè)通道來(lái)測試PER，測試效率低下并且因為手動(dòng)對準夾具引入了不確定因素導致PER測試結果不準確。

  PEM-400 通過(guò)在高速功率計前設置旋轉起偏器來(lái)測量多通道高達 30 dB 的偏振消光比和偏振角，同時(shí)，還可以測量無(wú)源組件的插入損耗（Insertion Loss, IL）或有源組件的輸出功率。

  產(chǎn)品亮點(diǎn)

  多通道 PER 測試：集成了Santec高穩定的光開(kāi)關(guān)（repeatability± 0.005 dB）實(shí)現了優(yōu)越的多通道PER測量，輸出端口高達24個(gè)。

  高達30dB的PER測量能力：獨特的光學(xué)設計，使其擁有高達30dB PER的測量能力。

  一次連接完成所有測試：無(wú)需重新定位被測產(chǎn)品的通道或者使用校準平臺來(lái)耦合被測產(chǎn)品，實(shí)現一次連接即可完成所有通道的PER, 插入損耗（或光功率）以及偏振角度的測量。

  快速測量：獨有專(zhuān)利3mm直徑的探測器，使其擁有行業(yè)內最快的自動(dòng)化測試速度，一根12芯的光纖陣列單元FAU能在30s內完成所有通道的測量。

  測量參數：偏振消光比PER, 偏振角度Angle，插入損耗IL（或者絕對光功率Absolute Power）。

  可定制化：靈活的設計，使其實(shí)現定制化，滿(mǎn)足不同波長(cháng)偏振光源以及不同通道的測量需求。

  外置探頭：即將發(fā)布的外置探頭版本，能滿(mǎn)足客戶(hù)復雜的測試系統環(huán)境的搭建需求。

  測試系統

  1.    多通道光纖陣列FAU的PER，Angle以及IL測量系統(需要參考跳線(xiàn))

  2.    多通道光纖陣列FAU的PER，Angle測量系統（無(wú)需參考跳線(xiàn)）

  3.    有源器件測試，如ELSFP, 測量PER以及絕對功率等參數

  官網(wǎng)：www.santec.com.cn

  電話(huà)：021-58361261