【CIOE2017】光纖高度，你還騙我多久？ --維勘科技最新3D測量技術(shù)誕生

　　ICCSZ訊 2017年是國內光纖連接器端面3D全檢的元年。這一年包括華為、中興在內的眾多企業(yè)開(kāi)始要求下游的供應商在生產(chǎn)光纖連接器時(shí)端面3D全檢。光纖端面3D干涉儀具備測量精度高、速度快、非接觸等優(yōu)點(diǎn)，被越來(lái)越多的廠(chǎng)家重視，成為檢驗光纖連接器生產(chǎn)品質(zhì)的重要手段。但是3D干涉儀精確測量的前提條件被很多人忽視了。

　　干涉技術(shù)在本質(zhì)上存在相位不確定問(wèn)題，導致原理上將有一系列的光纖高度值與獲取的測量信號對應，或者講，同樣的測量信號對應于多個(gè)可能的光纖高度值。其特點(diǎn)是這一系列的高度值屬于一個(gè)等差數列，相差所用波長(cháng)的一半的整數倍。假設使用波長(cháng)為640nm，如果真實(shí)纖高限定在±160nm區間內，則測量結果具有唯一性;如果真實(shí)纖高限定在±320nm區間內，則測量結果有2個(gè)，依此類(lèi)推，真實(shí)纖高越大，測量結果就越多。

　　3D指標中最難測量的就是光纖高度，光纖高度測量的難點(diǎn)在哪里呢?

　　3D指標中光纖高度是以納米為單位的，溫度、濕度、大氣壓強的變動(dòng)都會(huì )影響光纖高度。連接器的生產(chǎn)工藝從固化、研磨到3D檢測只需要10分鐘時(shí)間，雖然研磨后測量纖高是合格的，但是當靜置24小時(shí)之后重新測量，會(huì )發(fā)現原來(lái)的合格品中有一部分光纖高度變化量超過(guò)100nm，導致纖高超出測量范圍。此時(shí)，傳統的光纖端面3D干涉儀受測量范圍的限制，無(wú)法給出準確的纖高測量結果，甚至會(huì )把不合格品誤判為合格品。

　　同一個(gè)連接器用不同方法測量，測量結果相差懸殊，究竟哪個(gè)測量結果是正確的呢?

　　在維勘科技公司創(chuàng )始人汪博士的帶領(lǐng)下，我們來(lái)到了浙江大學(xué)光電學(xué)院現代光學(xué)儀器國家重點(diǎn)實(shí)驗室，用物理接觸式測試儀對這個(gè)連接器進(jìn)行了測量。

　　臺階儀測量結果：424nm;傳統干涉儀測量結果：83nm;增強干涉儀測量結果：400nm 注：臺階儀測量為最高點(diǎn)數值，3D干涉儀測量為平均數值。.

　　經(jīng)過(guò)不斷的優(yōu)化與驗證，杭州維勘科技股份有限公司最新研發(fā)的增強型光纖端面3D干涉儀完美解決了超高超低纖高測量的難題，測量范圍已經(jīng)擴大到了|7000nm|，更可貴的是測量速度僅為0.7秒。該產(chǎn)品已通過(guò)國家權威計量部門(mén)中國計量科學(xué)研究院的計量認證。

　　結論：

　　1、光纖連接器纖高超高超低現象還是很普遍的。

　　2、傳統的端面3D干涉儀無(wú)法測量超高超低纖高。

　　3、在現有生產(chǎn)工藝無(wú)法有效控制纖高的情況下，只有增強干涉儀纖高測量范圍才能保證光纖連接器的品質(zhì)。

　　新型干涉儀在第十六屆訊石光纖通訊市場(chǎng)暨技術(shù)專(zhuān)題研討會(huì )上隆重亮相，同時(shí)將在于第19屆中國國際光電博覽會(huì )，我們的展位在6號館6065、6066、6067展位，歡迎各位朋友蒞臨參觀(guān)指導。

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