CIOE2020 | 普賽斯攜芯片系列解決方案及400G誤碼儀成功參展

  ICC訊 9月9-11日，武漢普賽斯電子技術(shù)有限公司攜全系列光芯片、光組件、光器件、光模塊測試設備與最新技術(shù)方案亮相中國光博會(huì )(CIOE)，成立于2010年的普賽斯電子專(zhuān)業(yè)研究和開(kāi)發(fā)光通信器件產(chǎn)線(xiàn)監測和測試方案，以及自動(dòng)化生產(chǎn)設備。產(chǎn)品覆蓋BAR條器件、TO器件、OSA器件、光收發(fā)模塊、BOB等生產(chǎn)線(xiàn)，旨在為光電器件生產(chǎn)客戶(hù)提供完美的服務(wù)。

  在10年的發(fā)展中，普賽斯電子已經(jīng)成為國內光通訊測試儀器儀表商的領(lǐng)先代表。隨著(zhù)光通訊產(chǎn)品的快速升級迭代，儀器儀表的新產(chǎn)品是每年觀(guān)展的亮點(diǎn)。在2020年的深圳光博會(huì )上，普賽斯電子現場(chǎng)展示了COC老化系統、BAR條自動(dòng)測試機、探測器組件測試分揀一體機、CHIP TESTER、全新8路ED收發(fā)400G高速誤碼儀、SFP模塊老化、LD集成式老化系統等。

  光芯片全自動(dòng)測試機

  光芯片全自動(dòng)測試機應用于光芯片LD-CHIP高溫/常溫LIV測試、SMSR測試及背光抽測并對不同測試結果進(jìn)行歸類(lèi)分檔篩選。芯片 wafer 藍膜上料，CHIP-ID 自動(dòng)識別記憶匹配測試，通過(guò)藍膜頂針剝離機構，吸嘴吸取，機械手分別搬運到高溫及常溫測試區域，自動(dòng)擺位，自動(dòng)給電，收集發(fā)光參數，分析篩選，機械手搬運分檔歸類(lèi)。此設備具有高速、高精度特點(diǎn)，實(shí)現了復雜時(shí)序、嚴密邏輯的工藝過(guò)程。設備采用了偏心凸輪驅動(dòng)、連桿及精密夾具等機構，配合多軸運動(dòng)、視覺(jué)定位、視覺(jué)字符匹配等技術(shù)，具有批量生產(chǎn)能力。

  功能特點(diǎn)

  芯片藍膜上料，通過(guò)視覺(jué)系統自動(dòng)識別芯片ID，并可根據藍膜上物料得擺放形式設定拾取搜索路線(xiàn)。頂針剝離機構剝離芯片，機械手自動(dòng)拾取;

  通過(guò)校準臺對拾取歸放完畢的芯片進(jìn)行二次定位;

  探針自動(dòng)下壓加電，探針下壓力度可調;

  高溫，常溫測試臺，溫度采用閉環(huán)控制;

  光纖準直器及PD自動(dòng)切換收光，測試常溫及高溫P4-V，常溫背光光功率，常溫和高溫光譜特性;

  機械手對測試NG物料自動(dòng)拋料;

  測試OK物料根據測試結果自動(dòng)分檔歸類(lèi);

  設備所有運動(dòng)軸均可獨立復位;

  可用標準TO及芯片進(jìn)行校準，并對其他工藝參數進(jìn)行設置;

  軟件中加電條件、測試溫度等測試參數可設定;

  針對生產(chǎn)過(guò)程中的重要環(huán)節均有實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)提示;

  生產(chǎn)過(guò)程中的異常情況均有報警提示及糾錯提示功能

  測試分選區支持4-6WaferRing，每個(gè)WaferRing可通過(guò)軟件設置進(jìn)一步細分檔位。

  探測器組件測試分揀一體機

  產(chǎn)品簡(jiǎn)介

  適用探測器組件(無(wú)需做老化測試的PIN-TIA或者APD器件)的測試及下料分揀，可與封帽機無(wú)縫對接，采用其下料盒上料，實(shí)現插管腳、測試、分檔、下料至吸塑盒全過(guò)程，最終產(chǎn)出成品。

  功能特點(diǎn)

  光源帶1MHZ調制信號;

  可以測試在調試光信號條件下的Vpp值;

  響應度測試;

  光源穩定性高;

  支持1310nm，1490nm，850nm光源輸出;

  全自動(dòng)插料、下料;·支持多種料盒提籃式上料;

  最多支持6個(gè)下料檔位;

  管腳方向圖像識別;

  下料盒孔位圖像識別;

  器件插入SOCKET失敗報警功能，不損傷器件管腳;

  器件放料失敗報警功能;

  根據不同客戶(hù)需求，定制化的數據存儲功能。

      BAR自動(dòng)測試機

  產(chǎn)品簡(jiǎn)介

  普賽斯BAR自動(dòng)測試機用于LD巴條LV曲線(xiàn)，光譜，光自動(dòng)測量。全自動(dòng)上下料，支持多種規格料盒上料，支持多種規格料盒或藍跌下料。常溫、高溫雙濕測試，高溫測試溫度可由用戶(hù)自定。單或雙探針加電，測試NGchip采取打點(diǎn)標記，向用戶(hù)開(kāi)放測量數據庫，用于后續篩分工序。

  功能特點(diǎn)

  支持多種主演規格料盒，全自動(dòng)上下料，避免轉料或人工操作對巴條chip造成的報廢;

  單臺集成常溫測量臺和高溫溟量臺，前光LV曲線(xiàn)、功率、光諾測量，背光功率測量，多參費多條件篩分，盡可能篩選出不良chip，避免流入后道工序;

  多維度可調測量結構，滿(mǎn)足用戶(hù)對不同夏核巴條測量需求;

  全自動(dòng)測控程序，支持chip編碼識別，NG Chip保用打點(diǎn)標記。

  400G高速誤碼儀(PSS BERT19881)

  產(chǎn)品簡(jiǎn)介

  普賽斯400G高速誤碼測試系統(PSS BERT19881)是一款針對于多通道PAM4和NRZ應用的高速信號誤碼性能分析儀，最高支持8x56Gb/sPAM4信號測試，亦可支持10G-28Gb/sNRZ信號測試，設備包含8路PPG，8路ED收發(fā)端信號可同時(shí)或者獨立工作，單路最高支持56Gb/sPAM4信號，支持多類(lèi)型碼型測試方案。

  發(fā)端包含多級預加重調節模式，可針對PAM4信號進(jìn)行眼型調節等功能，收端包含0~-9dB CTLE均衡調節，也可支持FFE、DF等均衡功能，支持FEC功能，可實(shí)現PRBS錯誤校驗與修正，KP4/KR4FEC協(xié)議，具備SNR監測功能?？蓮V泛于100G模塊、200G模塊、400G模塊、AOC、光器件及子系統研發(fā)生產(chǎn)等光測試場(chǎng)景，亦可為高速光收發(fā)模塊自動(dòng)化生產(chǎn)測試提供最佳解決方案。

  期待普賽斯電子保持創(chuàng )新，為光通信帶來(lái)高性能高性?xún)r(jià)比的產(chǎn)品，用強實(shí)力助力5G及數據中心產(chǎn)業(yè)快速發(fā)展。