后400G時(shí)代，如何擁抱變化實(shí)現彎道超車(chē)？|歡迎報名線(xiàn)上聽(tīng)會(huì )

  未來(lái)已來(lái)，后400G時(shí)代應何去何從？

  隨著(zhù)各種云端服務(wù)對于頻寬需求的日益提高，數據中心每年預計將持續有50%-60%的頻寬成長(cháng)。因此，對于速度和承載信息的強度的追求將整個(gè)產(chǎn)業(yè)及社會(huì )向后400G時(shí)代推進(jìn)?？梢灶A見(jiàn)的是，光模塊速率未來(lái)將翻倍迎接“800G”及“1.6T”的新格局。如此改變使得光元器件、IC、PCB也必須隨之提升至超過(guò)50GHz或更高的頻寬。

  「碼」上參會(huì )，探索新時(shí)代

  從系統級的應用，來(lái)思考物理層的設計和測試，是當年整個(gè)行業(yè)突破400G研發(fā)和量產(chǎn)的關(guān)鍵。未來(lái)進(jìn)入后400G時(shí)代，我們是否需要更新的光模塊設計或測試思維？為與大家共同探索這個(gè)謎題的答案，EXFO產(chǎn)品線(xiàn)總監Jones Huang及EXFO應用工程師Cami Yu將于8月24日（周二）14:30-16:00與大家相約線(xiàn)上講堂，共同解鎖未來(lái)密碼。

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  主講嘉賓：

  Jones Huang —— EXFO產(chǎn)品線(xiàn)總監

  Cami Yu ——  EXFO應用工程師

  會(huì )議時(shí)間：

  8月24日（周二）14:30-16:00

  會(huì )議內容：

  ·后400G技術(shù)發(fā)展前景及策略

  ·后400G的設計思考

  ·從系統層面的應用出發(fā)思考物理層的測試

  ·即時(shí)獲取FEC行為的測試系統

  ·調適800G、1.6T光模塊：如何避免造成大量突發(fā)/隨機誤碼

  ·現場(chǎng)演示：800G FEC測試方案

  ·問(wèn)答&抽獎

  適合參會(huì )人群：

  ·高速光模塊的研發(fā)、生產(chǎn)和測試人員

  ·高速光通信相關(guān)的研究人員

  深耕不輟，學(xué)習不止，擁抱全新變化，突破技術(shù)瓶頸。在致力于創(chuàng )新發(fā)展和服務(wù)大家享受高質(zhì)量通信環(huán)境及更優(yōu)質(zhì)的生活，EXFO一直在行動(dòng)。輕觸未來(lái)密碼，歡迎參會(huì )，和我們一起探索未來(lái)新知！