EXFO完成收購EHVA | PIC測試端到端集成全自動(dòng)，更高效！

  ICC訊 通信業(yè)測試、監測與分析專(zhuān)家 EXFO 公司近日完成了對 EHVA 的收購。

  EHVA 是一家總部位于加拿大魁北克市的創(chuàng )新型光子集成電路（PIC）和系統自動(dòng)化公司。此次收購將加快 EXFO 在 PIC 測試方面的創(chuàng )新，從而提供自動(dòng)、完整的端到端測試解決方案，滿(mǎn)足從實(shí)驗室研發(fā)到高速量產(chǎn)等多個(gè)環(huán)境對光器件的測試要求。

  EHVA 將智能制造技術(shù)與從晶圓到單器件的測試功能結合起來(lái)，為 PIC 測試與生產(chǎn)等應用提供可擴展的解決方案。該公司與多家光子行業(yè)全球領(lǐng)導者以及加拿大拉瓦爾大學(xué)的光學(xué)、光子學(xué)和激光中心（COPL）保持密切合作。

  目前，在各種應用中采用的 PIC 設計多種多樣，且缺少 PIC 技術(shù)標準，這為自動(dòng)化測試帶來(lái)了更多挑戰。EHVA 的流程軟件套件將 EXFO 的先進(jìn)掃描連續激光掃描技術(shù)無(wú)縫集成到客戶(hù)的制造設置中，提供全自動(dòng)的解決方案，實(shí)現高效、可靠的測試，從而幫助客戶(hù)避免生產(chǎn)瓶頸。

  通過(guò)收購 EHVA，EXFO 可提供端到端的集成解決方案，從而很好地應對全球 PIC 市場(chǎng)的指數級增長(cháng)需求。

  1 EXFO PIC 測試解決方案

  由于光模塊和無(wú)源器件急速發(fā)展，光子集成電路（PIC）比分立光器件（bulk optics）更小、更快、更便宜且更環(huán)保。從商業(yè)和研究的角度來(lái)看，PIC 也在其它領(lǐng)域（如芯片實(shí)驗室、激光雷達技術(shù)或量子計算）開(kāi)始發(fā)力。

  多年來(lái)，EXFO 一直與快速發(fā)展的 PIC 行業(yè)內的相關(guān)企業(yè)密切合作，共同開(kāi)發(fā)自動(dòng)、可擴展、快速、精準且成本低的測試與測量（T&M）硬件和軟件解決方案，包括從簡(jiǎn)單的光測試到光譜鑒定或流量分析的多種功能，并能夠與第三方設備（如晶圓片處理系統）互通。

  EXFO 加入多個(gè)聯(lián)盟組織，如 AIM Photonics、EPIC、LUX Photonics 和 Optica，與全球主要廠(chǎng)商合作，提供集成的 PIC 測試解決方案。

  2  靈活、精準、快速測試 PIC

應該獲取哪些光譜測試功能？

如何才能獲得 PIC 流量分析功能？

測 試 有 源 光 器 件

  通?？梢允褂?strong>光譜分析儀（OSA）來(lái)測試 PIC 上的激光器和放大器等有源器件。這種通用的測試儀表能夠測量光源的光譜信號（如下圖所示）。

  先進(jìn)的 OSA，如 OSA20 具有測試速度快的優(yōu)點(diǎn)，能夠以2000 nm/s的速度，每秒完成五次掃描，這足以進(jìn)行實(shí)時(shí)的器件校準，且分辨率非常高，可以測量關(guān)鍵的參數，如 OSNR 和 SMSR。

測 試 無(wú) 源 器 件

  CTP10 是一個(gè)模塊化的器件測試平臺，可在掃描時(shí)以皮米級分辨率和70 dB的動(dòng)態(tài)范圍鑒定高端口數設備的光譜特性，速度可達100 nm/s。CTP10 的工作波長(cháng)范圍從1240到1680 nm，涵蓋包括電信、傳感和激光雷達在內的一系列應用。它采用電子設備和內部處理器，使數據傳輸變得輕而易舉?？梢允褂?SCPI 命令遠程控制 CTP10，在進(jìn)行自動(dòng)化 PIC 測試設置的過(guò)程中，讓集成變得更加簡(jiǎn)單方便，從而提高 PIC 測試的效率并縮短測試時(shí)間。

  要鑒定輸出端口數量比較有限的 PIC 器件，可以使用更加緊湊的 CT440。CT440 具有與 CTP10 相同的波長(cháng)精準度和光譜覆蓋范圍，可以進(jìn)行 IL/PDL 測量。

  EXFO 新品 T200S 高速可連續調諧激光器是研發(fā)和測試光子集成電路與光器件的必備工具。它適用于需要快速、連續地調諧波長(cháng)的各種應用，能夠以高功率和高速度進(jìn)行掃描并在固定波長(cháng)上具備出色的線(xiàn)寬。

  CTP10 能夠充分發(fā)揮 T200S 的性能，以 200 nm/s 的速度進(jìn)行掃描。

可 重 構 測 試

  在測試單個(gè)晶圓上的數百甚至數千個(gè)器件時(shí)，自動(dòng)化會(huì )變得非常關(guān)鍵。這尤其是因為光學(xué)功能可能因設備或芯片而異。因此，PIC 測試解決方案需要使用自動(dòng)的光開(kāi)關(guān)來(lái)解決快速重構測試的問(wèn)題。此外，更加簡(jiǎn)單的單點(diǎn)測試也可能有助于提高測試與測量（T&M）流程的整體速度。

  EXFO FTBx 系列模塊為簡(jiǎn)單的激光器 + 功率計測試配置提供光測試設備，可添加衰減器、開(kāi)關(guān)或不同類(lèi)型的光源。MXS 矩陣開(kāi)關(guān)可滿(mǎn)足快速、可重復地重構測試的需求，能夠在幾分之一秒內切換到新的測試配置。

基于PIC的光模塊：流量分析

  端到端的光模塊驗證需要一整套高端的光、電測試儀。為了幫助光模塊廠(chǎng)商確保其產(chǎn)品在整個(gè)生命周期內都符合相關(guān)要求，EXFO 提供了一系列涵蓋從晶圓級測試到封裝測試各個(gè)階段的光、電測試解決方案，包括 EA-4000采樣示波器和 BA-4000誤碼率分析儀。

  打造一款全面的 PIC 測試解決方案需要多個(gè)領(lǐng)域的專(zhuān)業(yè)知識。EXFO 與 PIC 生態(tài)系統內的行業(yè)領(lǐng)導者實(shí)施重大合作項目，以驗證硬件和軟件的互通性。為了確保測試解決方案的整體性能最佳，EXFO 與 MPI Corporation、Aerotech 和 FormFactor 等高精度晶圓定位系統的主要供應商合作。

  EXFO 的所有儀表都可以完全自動(dòng)化，并與第三方軟件集成商（如EHVA、OptiInstrument和Maple Leaf Photonics）的產(chǎn)品結合起來(lái)，成為整體的解決方案。

?完整解決方案

用于對 PIC 進(jìn)行自動(dòng)化晶圓級測試

  關(guān)于 EXFO

  EXFO為全球通信行業(yè)開(kāi)發(fā)更智能的測試、監測與分析解決方案。我們是可信賴(lài)的顧問(wèn)，客戶(hù)包括固定和移動(dòng)網(wǎng)絡(luò )運營(yíng)商、超大規模數據中心以及生產(chǎn)與研發(fā)領(lǐng)域的領(lǐng)導者。我們?yōu)榭蛻?hù)提供卓越的網(wǎng)絡(luò )性能、服務(wù)可靠性和用戶(hù)體驗洞察力。EXFO以35年的創(chuàng )新為后盾，將設備、軟件和服務(wù)新穎獨特地組合起來(lái)，使客戶(hù)能夠更加迅速、可靠地完成5G、云原生和光纖網(wǎng)絡(luò )的升級改造。