聯(lián)訊發(fā)布rBT3250-50G突發(fā)誤碼分析儀，支持突發(fā)和連續模式信號輸出及誤碼測試

50G突發(fā)誤碼分析儀

rBT3250是專(zhuān)門(mén)針對下一代25G/50G無(wú)源光網(wǎng)絡(luò )(PON)應用的光線(xiàn)路終端(OLT)測試新型突發(fā)誤碼分析儀，用于評估突發(fā)模式下的25G及50G OLT接收機性能。

rBT3250提供2個(gè)獨立的突發(fā)碼型發(fā)生器和誤碼探測器通道，支持連續模式或突發(fā)模式誤碼分析，具有兩路突發(fā)時(shí)分碼型序列產(chǎn)生和誤碼分析能力，碼型時(shí)序靈活可調。并針對器件測試需求，給相應測試通道提供同步的激光器使能、復位信號等低速控制通道。產(chǎn)品內置時(shí)鐘恢復，可以自動(dòng)測距，輕松應對長(cháng)纖測試。

50GPON模塊測試

（a）

(b)

如圖a所示，搭建50G PON 突發(fā)測試環(huán)境，主要由兩個(gè)ONU模塊和一個(gè)OLT模塊組成。突發(fā)誤碼測試儀兩個(gè)突發(fā)通道PPG時(shí)分交替發(fā)送具備突發(fā)幀結構的數據（preamble & Data）及激光器使能信號（enable），使兩個(gè)ONU模塊交替發(fā)送突發(fā)數據，分別經(jīng)過(guò)衰減器，模擬不同長(cháng)度光纖上的功率衰減，經(jīng)過(guò)分光路器合成一路光，接入OLT模塊。突發(fā)誤碼測試儀ED向OLT發(fā)送reset信號并接收突發(fā)數據，進(jìn)行兩路突發(fā)誤碼比較。

 如圖b所示，在雙突發(fā)測試過(guò)程中，突發(fā)誤碼測試儀通過(guò)配置兩個(gè)突發(fā)通道的突發(fā)幀長(cháng)度（preamble & Data），以及衰減器的衰減量，可以充分檢測OLT模塊在接收不同光功率，不同突發(fā)數據長(cháng)度時(shí)的性能。 

產(chǎn)品優(yōu)勢

01，支持突發(fā)和連續模式信號輸出及誤碼測試：

支持2路突發(fā)時(shí)序可配置的碼型發(fā)生器通道和2路突發(fā)誤碼測試通道

02，突發(fā)模式支持速率：

24.8832Gbps、25.78125Gbps、49.7664Gbps、51.5625Gbps

03，支持2路同步的ONU激光器使能控制通道誤碼測試通道：

控制電平是LVTTL 3.3V不需外接電平轉換。

04，支持2路雙復位控制通道：

復位位置可調，復位寬度可調

主要應用

01，50G PON OLT模塊研發(fā)及生產(chǎn)測試

02，突發(fā)線(xiàn)性TIA芯片測試：

需要驗證突發(fā)信號情況下TIA(跨阻放大器)的器件的工作狀態(tài)

03，對碼型時(shí)序有特殊要求的一些場(chǎng)合

04，多通道信號輸出,多路信號碼型同步、時(shí)延同步

05，SDI碼型或者成幀信號產(chǎn)生及誤碼探測

技術(shù)指標

關(guān)于聯(lián)訊

聯(lián)訊儀器是國內高端測試儀器和設備供應商。主要專(zhuān)注于高速通信、光芯片、電芯片和第三代半導體功率芯片等測試儀表和設備的研發(fā)制造。公司可以提供包括寬帶采樣示波器、高速誤碼儀、網(wǎng)絡(luò )流量測試儀、高精度快速波長(cháng)計、精密數字源表、低泄漏矩陣開(kāi)關(guān)等高端測試儀器，以及高速光電混合ATE、半導體激光器CoC老化、裸Die芯片測試、硅光晶圓測試、SiC晶圓老化、SiC裸Die 功率芯片KGD測試分選、WAT晶圓允收測試系統、WLR/PLR可靠性測試系統等高端測試設備。

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