產(chǎn)品升級 賦能制造｜驛天諾全自動(dòng)硅光芯片測試臺實(shí)現效能飛躍

  ICC訊 在封測領(lǐng)域，芯片測試環(huán)節作為保障產(chǎn)品質(zhì)量與性能的關(guān)鍵步驟，正面臨著(zhù)技術(shù)革新的迫切需求。隨著(zhù)行業(yè)技術(shù)持續進(jìn)步，傳統手工上下料方式已難以匹配不斷增長(cháng)的產(chǎn)能要求。在此背景下，驛天諾推出升級產(chǎn)品 —— 硅光全自動(dòng)藍膜 / 芯片吸附盒測試臺(CA-6000AL)，為芯片檢測提供了精準識別、高速抓取與智能檢測功能一體的專(zhuān)業(yè)測試方案。

  硅光全自動(dòng)藍膜/芯片吸附盒測試臺自動(dòng)上下料全過(guò)程

  硅光全自動(dòng)藍膜 / 芯片吸附盒測試臺(CA-6000AL)是一款專(zhuān)為硅光芯片測試設計的高精度自動(dòng)化設備。該設備主要適用于晶圓切割后芯片的拾取、定位、測試及分選工作。其采用全自動(dòng)化操作流程，可對藍膜或芯片吸附盒進(jìn)行高速、高精度測試，將單芯片平均測試時(shí)間壓縮至秒級以?xún)?，較傳統方式效率大幅度提升，有望為封測領(lǐng)域帶來(lái)新的發(fā)展動(dòng)力。

  核心特點(diǎn)

  納米級機械定位精度

  全自動(dòng)芯片搬運系統，實(shí)現快速抓取、定位、測試及分選

  上下料支持藍膜或者芯片吸附盒多種形態(tài)

  支持耦合單通道、四通道、八通道芯片測試，耦合精度高

  集成純光測試/純電測試/光電混合測試/RF測試

  溫度穩定性高，穩定性≤±0.2℃

  并行測試技術(shù)，顯著(zhù)提升測試效率，降低單顆芯片測試成本

  快速算法優(yōu)化，減少無(wú)效等待時(shí)間

  具備自動(dòng)校準、實(shí)時(shí)故障診斷及預測性維護功能

  實(shí)現芯片全流程自動(dòng)化測試與智能化數據分析

  驛天諾推出的硅光全自動(dòng)藍膜/芯片吸附盒測試臺，將為芯片檢測行業(yè)帶來(lái)更多可能性，推動(dòng)行業(yè)邁向新高度。該設備集高精度、全自動(dòng)化以及多功能于一體，對于客戶(hù)而言，這一測試臺應用將切實(shí)提升量產(chǎn)級別生產(chǎn)效率，保障產(chǎn)品質(zhì)量，大幅度提高UPH，進(jìn)而助力客戶(hù)在市場(chǎng)競爭中占據有利地位。

  在“中國芯”崛起與全球半導體競爭白熱化的背景下，硅光全自動(dòng)芯片測試臺不僅是提升效率工具，更是企業(yè)構建技術(shù)壁壘、搶占市場(chǎng)先機的戰略選擇。未來(lái)，它將成為半導體行業(yè)高質(zhì)量發(fā)展的助推器，助力中國智造走向全球舞臺!衷心感謝廣大客戶(hù)一直以來(lái)的支持與信任，驛天諾將持續以創(chuàng )新為驅動(dòng)，致力于為客戶(hù)提供更為優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù)，不斷為行業(yè)發(fā)展貢獻力量。

  驛天諾六月份將推出全新V2.0全自動(dòng)光電芯片測試臺，敬請期待!